機材

フォトルミネッセンス機能を統合した3D共焦点ラマン分光光度計。微小領域の化学状態評価や空間マッピングに適しています。

ENG-N043型手動式4探針プローブ（比抵抗測定用）、Lucas Labs社が設計した材料の電気的特性を高精度で評価するための装置。

サブμm領域のUV/VIS/NIRスペクトル分析を可能にする共焦点顕微分光光度計。薄膜の膜厚測定が可能。色空間の特性評価が可能。

紫外および可視スペクトルにおける光の吸収率と反射率を測定、物理的特性を解析、物質濃度を定量化。

高分解能の　XPS　分析と表面化学状態イメージングに対応した表面分析装置。

表面組成、化学状態、電子構造を評価できるx線光電子分光装置（XPS / ESCA）。

UNICO 製グローブボックスは、制御された中性雰囲気内で、感受性の高い物質や湿気に敏感な物質を安全に取り扱うことを可能にし、環境汚染物質からの保護を確実にします。

フーリエ変換赤外分光計（FTIR）は、近赤外、中赤外、遠赤外スペクトルを精密に分析し、バルク材料の特性評価や化学物質の同定を行います。

多波長機能を備え、可視から近赤外スペクトルをカバーする自動共焦点ラマン顏微鏡。 分子および材料の精密な特性評価が可能。

XtaLAB PROシリーズ回折装置 ・シャッターレスで低ノイズのデータ取得を可能にするHPAD検出器を搭載 ・低分子および高分子の精密な結晶構造解析を実現。

単結晶X線回折装置：単結晶を非破壊で解析し、単位胞の寸法を高精度に決定します。 原子構造を解析し、結晶学的特性を明確にします。

多目的X線回折装置：物質の精密な結晶構造解析に対応する構成可能なシステムで、幅広い科学分野の多様な用途に対応します。

15 ps級の時間分解能で蛍光ダイナミクスを評価できる時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）測定システム。

温度・磁場を制御しながら、熱・磁気・電気特性を評価できる物性測定システム。

磁気特性測定システム（MPMS）：広範な温度範囲と磁場における磁気特性を高精度で評価するために設計された磁力計。

DSA1ソフトウェアと組み合わせることで、液滴形状を高精度に解析し、表面張力や接触角を評価できるシステムです。

薄膜X線回折装置：薄膜試料を非破壊で分析し、結晶構造を特定。 表面の配向を測定。

NanoCalc 分光反射率計は、さまざまな標準的な薄膜構造において、薄膜の厚さおよび光学定数を正確かつ非破壊で測定することを可能にします。