機材

温度・磁場を制御しながら、熱・磁気・電気特性を評価できる物性測定システム。

磁気特性測定システム（MPMS）：広範な温度範囲と磁場における磁気特性を高精度で評価するために設計された磁力計。

薄膜X線回折装置：薄膜試料を非破壊で分析し、結晶構造を特定。 表面の配向を測定。

NanoCalc 分光反射率計は、さまざまな標準的な薄膜構造において、薄膜の厚さおよび光学定数を正確かつ非破壊で測定することを可能にします。

FEI Quantaは、高分解能イメージングおよび材料の詳細な表面分析を目的として設計されたショットキー電界放出型走査電子顕微鏡（FEG-SEM）です。