共焦点レーザー顕微鏡 高精度3Dイメージング、表面粗さ解析、形状測定が可能な共焦点レーザー顕微鏡。自動車およびエレクトロニクス産業の品質管理、研究開発、製造を支援。 KEYENCE VK-X210は、コンピュータワークステーションと電源を統合したレーザー共焦点スキャニング顕微鏡で、高精度な形状測定および表面解析のために設計されています。高度なレーザースキャニング技術を活用し、詳細な3Dイメージングと定量的な表面粗さ解析を提供し、微細構造や複雑な形状の精密な特性評価を可能にします。高解像度カメラと多機能な測定機能を搭載しており、製造業、自動車業界、エレクトロニクス分野などにおける品質管理、材料科学、微細加工、故障解析などの用途に適しています。 利用申請・トレーニング 機器No.: ENG-N009 メーカー: キーエンス モデル: VK-X210 導入年: 2012 カテゴリー 光学顕微鏡 セクション Engineering 部屋番号: L3-A744a 外部貸出: はい 操作: ユーザー/スタッフ操作 シェア: 特徴 ・3D表面マッピング、高さ分解能1 nm、10倍〜150倍の対物レンズあり、手動式XYZ位置決め装置 関連機材 UV/VIS/NIRおよびラマン用共焦点顕微分光光度計 サブμm領域のUV/VIS/NIRスペクトル分析を可能にする共焦点顕微分光光度計。薄膜の膜厚測定が可能。色空間の特性評価が可能。 3D共焦点ラマンおよびフォトルミネッセンス分光光度計 フォトルミネッセンス機能を統合した3D共焦点ラマン分光光度計。微小領域の化学状態評価や空間マッピングに適しています。 走査型電子顕微鏡(SEM) FEI Quantaは、高分解能イメージングおよび材料の詳細な表面分析を目的として設計されたショットキー電界放出型走査電子顕微鏡(FEG-SEM)です。