原子間力顕微鏡 (AFM) (SPM)

高分解能の表面観察とナノスケール材料解析に適した原子間力顕微鏡(AFM)。

ENG-N008 AFM Bruker Icon 3

Bruker Dimension Icon 3 は、高分解能の表面観察とナノ構造解析に適した原子間力顕微鏡(AFM)です。温度補償型位置センサーにより、Z軸ではサブオングストロームレベル、X-Y平面ではオングストロームレベルの位置精度を実現します。90 μmクラスのスキャン範囲に対応し、大型試料の高精細イメージングにも適しています。XYZクローズドループヘッド設計により、画像忠実度を保ちながらスキャン速度を高め、材料科学、生体分子観察、半導体研究などで効率的なデータ取得を可能にします。

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特徴

・X-Yスキャン範囲:90 μm × 90 μm(代表値)、最小85 μm

・Zレンジ:10 μm(代表値、イメージング/フォースカーブ時)、最小9.5 μm

・垂直ノイズフロア:30 pm RMS未満(適切な環境下)

・イメージング帯域幅:最大625 Hz

・X-Y位置ノイズ(クローズドループ):0.10~0.15 nm RMS(代表値)

・Zセンサノイズ(クローズドループ):35~50 pm RMS(代表値)

・試料ホルダー:210 mm真空チャック、試料径210 mm以下、厚、5 mm以下

・自動位置決めステージ:180 mm × 150 mm、繰返し精度2 μm(一方向)/3 μm(双方向)

・顧微鏡光学系:500万画素デジタルカメラ、視野180~1465 μm