機材

フーリエ変換赤外分光計（FTIR）は、近赤外、中赤外、遠赤外スペクトルを精密に分析し、バルク材料の特性評価や化学物質の同定を行います。

TPT HB16ボール/ウェッジワイヤーボンダーは、金ワイヤーボンディング技術を用いて、デバイスチップとパッケージ間の精密な電気的接続を実現します。

石英、ホウケイ酸、アルミノケイ酸キャピラリー用に設計されたCO2レーザー・マイクロピペットプラー。　完全にプログラム可能な設定により、精密かつ再現性の高い引き伸ばしを実現。

MLA 150は、2波長対応のマスクレスアライナーです。 高精度かつ高速なフォトリソグラフィーを実現し、表面および裏面のアライメントが可能です。 プロトタイピングや小規模生産に適した設計となっています。

二光子重合による　3Dプリンティング、マスクレスリソグラフィー、溶融シリカ内での　MEMS　部品およびマイクロ流体デバイスの高精度製造。

MCR302レオメーターは、包括的なレオロジー解析のために、幅広い温度範囲で振幅または周波数の掃引を行い、流動試験、回転試験、振動試験を実施できます。

OV-CFMシステムは、モジュール設計を採用し、独自技術により極低温冷凍機と光学ベクトルマグネットを統合し、精密な可変磁場制御を実現しています。

XtaLAB PROシリーズ回折装置 ・シャッターレスで低ノイズのデータ取得を可能にするHPAD検出器を搭載 ・低分子および高分子の精密な結晶構造解析を実現。

単結晶X線回折装置：単結晶を非破壊で解析し、単位胞の寸法を高精度に決定します。 原子構造を解析し、結晶学的特性を明確にします。

Savannahシステムは、逐次的な自己制限型化学反応を利用して、精密なナノスケール薄膜を成膜するために設計された熱原子層堆積（ALD）装置です。

高分解能の表面観察とナノスケール材料解析に適した原子間力顕微鏡（AFM）。

多目的X線回折装置：物質の精密な結晶構造解析に対応する構成可能なシステムで、幅広い科学分野の多様な用途に対応します。

15 ps級の時間分解能で蛍光ダイナミクスを評価できる時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）測定システム。

温度・磁場を制御しながら、熱・磁気・電気特性を評価できる物性測定システム。

磁気特性測定システム（MPMS）：広範な温度範囲と磁場における磁気特性を高精度で評価するために設計された磁力計。

薄膜X線回折装置：薄膜試料を非破壊で分析し、結晶構造を特定。 表面の配向を測定。

NanoCalc 分光反射率計は、さまざまな標準的な薄膜構造において、薄膜の厚さおよび光学定数を正確かつ非破壊で測定することを可能にします。

プラズマラボ100は、シリコン系材料の精密なエッチングおよび化学気相成長に特化して設計された諸導結合プラズマ（ICP）システムです。