機材

フォトルミネッセンス機能を統合した3D共焦点ラマン分光光度計。微小領域の化学状態評価や空間マッピングに適しています。

FIB-SEMデュアルビームシステムは、精密な材料除去を可能にする集晵イオンビームミリングと、高分解能イメージングおよび構造解析を実現する走査型電子顔微鏡を統合しています。

サブμm領域のUV/VIS/NIRスペクトル分析を可能にする共焦点顕微分光光度計。薄膜の膜厚測定が可能。色空間の特性評価が可能。

紫外および可視スペクトルにおける光の吸収率と反射率を測定、物理的特性を解析、物質濃度を定量化。

高分解能の　XPS　分析と表面化学状態イメージングに対応した表面分析装置。

X線分析顕微鏡 XGT-7200は、微小スケールでの精密な元素および組成分析のために設計された高性能蛍光x線分析顕微鏡です。

表面組成、化学状態、電子構造を評価できるx線光電子分光装置（XPS / ESCA）。

UNICO 製グローブボックスは、制御された中性雰囲気内で、感受性の高い物質や湿気に敏感な物質を安全に取り扱うことを可能にし、環境汚染物質からの保護を確実にします。

フーリエ変換赤外分光計（FTIR）は、近赤外、中赤外、遠赤外スペクトルを精密に分析し、バルク材料の特性評価や化学物質の同定を行います。

TPT HB16ボール/ウェッジワイヤーボンダーは、金ワイヤーボンディング技術を用いて、デバイスチップとパッケージ間の精密な電気的接続を実現します。

MCR302レオメーターは、包括的なレオロジー解析のために、幅広い温度範囲で振幅または周波数の掃引を行い、流動試験、回転試験、振動試験を実施できます。

OV-CFMシステムは、モジュール設計を採用し、独自技術により極低温冷凍機と光学ベクトルマグネットを統合し、精密な可変磁場制御を実現しています。

ゼータサイザーナノZSは、粒子径を動的光散乱法で、ゼータ電位をレーザードップラー法で、分子量を静的光散乱法で測定することができます。

XtaLAB PROシリーズ回折装置 ・シャッターレスで低ノイズのデータ取得を可能にするHPAD検出器を搭載 ・低分子および高分子の精密な結晶構造解析を実現。

単結晶X線回折装置：単結晶を非破壊で解析し、単位胞の寸法を高精度に決定します。 原子構造を解析し、結晶学的特性を明確にします。

高分解能の表面観察とナノスケール材料解析に適した原子間力顕微鏡（AFM）。

多目的X線回折装置：物質の精密な結晶構造解析に対応する構成可能なシステムで、幅広い科学分野の多様な用途に対応します。

15 ps級の時間分解能で蛍光ダイナミクスを評価できる時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）測定システム。