機材

XtaLAB PROシリーズ回折装置 ・シャッターレスで低ノイズのデータ取得を可能にするHPAD検出器を搭載 ・低分子および高分子の精密な結晶構造解析を実現。

単結晶X線回折装置：単結晶を非破壊で解析し、単位胞の寸法を高精度に決定します。 原子構造を解析し、結晶学的特性を明確にします。

多目的X線回折装置：物質の精密な結晶構造解析に対応する構成可能なシステムで、幅広い科学分野の多様な用途に対応します。

薄膜X線回折装置：薄膜試料を非破壊で分析し、結晶構造を特定。 表面の配向を測定。