三次元座標測定機（CMM）

ZEISS O-INSPECT 3/2/2三次元座標測定機（CMM）は、接触式測定技術と光学式測定技術を組み合わせることで、精密かつ多用途な寸法解析を実現します。測定容積は300×200×200 mm³で、小型から中型の部品検査に適しています。本システムは卓越した精度を備えており、測長測定MPE(E)は1Dで1.6 μm＋L/200 μm、2Dで1.9 μm＋L/150 μm、3Dで2.4 μm＋L/150 μmです。光学測定機能は繊細な表面の測定に最適であり、接触式プローブは信頼性の高い３Dデータ取得を可能にします。品質管理、精密製造、研究所での用途向けに設計されたこのCMMは、さまざまな材料や形状に対して効率的かつ高精度な測定をサポートします。