x線光電子分光法

表面組成、化学状態、電子構造を評価できるx線光電子分光装置(XPS / ESCA)。

ENG-N019 Kratos-AXIS-Ultra-DLD-XPS.png

AXIS Ultra DLDは、試料分析室(SAC)内での試料操作を自動化し、精密な分光分析とイメージング分析を行えるX線光電子分光(XPS)システムです。単色X線源(Al Kα)および従来型X線源(Al Kα、Mg Kα)を搭載し、700 μm × 300 μmから直径15 μm未満までの測定領域に対応します。低エネルギー電子ビーム中和器、Arイオン銃、加熱・冷却機構などを備え、柔軟な試料前処理が可能です。

磁気浸漬レンズ、球面ミラーアナライザー、同心円形分析器が内蔵され、高分解能X線スペクトル取得と化学状態のリアルタイムイメージングを実現します。ディレイライン検出器(DLD)により、数秒でのスペクトル取得や小スポットイメージングが可能で、横方向の化学種分布に関する洞察が得られます。移送容器により、大気暴露させずに試料分析が可能で、昼夜連続の自動長時間測定にも対応します。

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特徴

  • 測定領域:700 μm × 300 μm、微小スポットは直径15 μm未満まで対応
  • 低エネルギー電子ビーム中和器を搭載
  • Arイオン銃、加熱・冷却システム、ガス処理チャンバーを装備
  • 移送容器により大気暴露を避けた試料搜送が可能
  • オージェ電子分光法(AES)、紫外光電子分光法(UPS)、二次イオン質量分析法(SIMS)に対応
  • DLDにより3 μm未満の空間分解能で化学状態イメージングが可能